НАУЧНАЯ БИОГРАФИЯ

 

Д.ф.-м.н. Эрнеста Витальевича Суворова

 

1. Personal

 

Родился в СССР (г. Бузулук, Оренбургской области) 7 ноября 1937 года, женат.

 

 

2. Образование

 

Окончил Ташкентский Гос. Университет, физический факультет, Инженер-физик 1960;

Кандидат физико-математических наук 1974, Институт Физики твердого тела АН СССР;

Доктор физико-математических наук 1982, Институт Физики твердого тела АН СССР;

 

 

3. Работа с начала трудовой деятельности

 

1960/62 - Ассистент, Ташкентский Гос. Университет

 

1962/64 - Старший преподаватель, Ташкентский Гос. Университет

 

1964/67 - Аспирант Физического факультета Московского Гос. Университета

 

1967/70 - Старший инженер, Институт Физики твердого тела АН СССР, Черноголовка

 

1970/76 - Младший научный сотрудник, Институт Физики твердого тела АН СССР, Черноголовка

 

1976/80 - Старший научный сотрудник, Институт Физики твердого тела АН СССР, Черноголовка

 

1985/1989 - Ст. преподаватель, МИСиС (по совместительству ½ ставки)

 

1989/1999 - Доц. МИСиС (по совместительству ½ ставки)

 

1999/2011 – проф. МИСиС (по совместительству ½ ставки)

 

1988/92 - Зам. директора по научной работе, Институт Физики твердого тела АН СССР, Черноголовка

 

1980/2003 - Заведующий лабораторией рентгеновской оптики и электронной микроскопии, Институт Физики твердого тела АН СССР, Черноголовка

 

2003/по наст.время - ГНС лаборатории структурных исследований

 

4. Научные интересы

 

Физика дифракции рентгеновских лучей и электронов, Рентгеновская дифракционная оптика, Ренгеновская топография, Дифракционный контраст дефектов, Электронная микроскопия, Реальная структура полупроводников, металлов и высокотемпературных сверхпроводников.

 

5. Участие в государственных и международных программах

 

1966/7 - Участник программы Международного союза кристаллографов “Точность измерений рентгеновских интегральных интенсивностей для монокристаллов”

 

1987 - Участник научных исследований по государственной программе СССР Высокотемпературная сверхпроводимость.

 

1988 – 2000 Член бюро Научного Совета по электронной микроскопии АН России.

 

6. Административные должности.

 

1980 - Зав. лаборатории рентгеновской оптики и электронной микроскопии в ИФТТ РАН в Черноголовке

 

1988/90 - Зам. председателя президиума Научного центра РАН в Черноголовке

 

1988/92 - Зам. директора по научной работе ИФТТ РАН в Черноголовке

 

7. Участие в конференциях

1999-2012 гг

 

1999

 

1. И.А. Смирнова, Э.В. Суворов, Е.В. Шулаков , М.С. Мартиросян

Роль поглощения в формировании дифракционного изображения краевой дислокации расположенной в плоскости рассеяния.

Тезисы докладов III Национальной конференциипо применению Рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования материалов, Москва, ИК РАН, 21-25 мая стр.221. 1999 г.

 

2. И.А.Смирнова, Е.В.Шулаков, Э.В.Суворов

Распределение рентгеновского волнового поля в объеме кристалла в условиях акустического возбуждения.

Тезисы докладов III Национальной конференциипо применению Рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования материалов, Москва, ИК РАН, 21-25 мая стр.221. 1999 г.

 

3. Гончаров В.А., Осипьян Ю.А., Суворов Э.В.

ЭлектронномикроскопиЧеское исследование и моделирование пространственного распределениЯ кластеров йода в монокристаллах Bi₂Sr₂CaCu₂I_xO_y.

Тезисы докладов III Национальной конференциипо применению Рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования материалов, Москва, ИК РАН, 21-25 мая стр.221. 1999 г.

 

2001

 

4. Э.В.Суворов, И.Л.Шульпина

Дифракционное изображение дефектов кристаллической решетки

Материалы совещания «Рентгеновская оптика – 2001», Н.Новгород, 19-22 февраля 2001 г. Стр.177-182

 

5. Шулаков Е.В., Смирнова И.А., Суворов Э.В.

Формирование изображения дефектов при рассеяния рентгеновского излучения в ограниченном кристалле

Материалы совещания «Рентгеновская оптика – 2001», Н.Новгород, 19-22 февраля 2001 г. Стр.277-284

 

6. В.Д. Седых, И.С.Смирнова, Б.Ш.Багаутдинов, Э.В.Суворов, А.В.Дубовицкий, В.Ш.Шехтман

ВЛИЯНИЕ ОТКЛОНЕНИЯ ОТ СТЕХИОМЕТРИИ НА СТРУКТУРНУЮ МОДУЛЯЦИЮ В Вi-ФЕРРАТАХ

Тезисы докладов III Национальной конференциипо применению Рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования материалов, Москва, ИК РАН, 21-25 мая стр.142. 2001 г

 

7. В.А. Гончаров. Я.М. Муковский, Э.В. Суворов, А.В. Шматок.

ПРОСВЕЧИВАЮЩАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ (ПРЭМ) ТОНКИХ МОНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ плёнок СИСТЕМЫ La_1-xSr_xMnO₃ ВЫРАЩЕННЫХ НА SгТiOз ПОДЛОЖКАХ.

Тезисы докладов III Национальной конференциипо применению Рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования материалов, Москва, ИК РАН, 21-25 мая стр.221. 2001 г.

 

2002

 

8. Э.В.Суворов, И.А.Смирнова, Е.В.Шулаков

Контраст Номарского при формировании изображения дефектов в геометрии Брэгга

Материалы совещания «Рентгеновская оптика – 2001», Н.Новгород, 18-21 марта 2002 г. Стр.268-275

 

2003

 

9. Э.В.Суворов, И.А.Смирнова, Е.В.Шулаков

ТОНКАЯ СТРУКТУРА ДИФРАКЦИОННОГО ИЗОБРАЖЕНИЯ ДИСЛОКАЦИЙ ФОРМИРУЮЩЕГОСЯ В РАЗЛИЧНЫХ УЧАСТКАХ ТРЕУГОЛЬНИКА РАССЕЯНИЯ

Материалы совещания «Рентгеновская оптика – 2003», Н.Новгород, 11-14 марта 2003 г. Стр.88-94

 

10. Э.В.Суворов, И.А.Смирнова, Е.В.Шулаков

РЕКОНСТРУКЦМЯ ДИФРАКЦИОННОГО ИЗОБРАЖЕНИЯ ДИСЛОКАЦИЙ ПЕРПЕНДИКУЛЯРНЫХ ПЛОСКОСТИ РАССЕЯНИЯ.

Тезисы докладов IV Национальной конференции по применению Рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования материалов, Москва, ИК РАН, 17-22 ноября 2003, стр.305.

 

11. А.А. Арсенов , В.А. Гончаров , Л.Н. Завельская, Я.М. Муковский, Э.В. Суворов

СВЕРХСТРУКТУРЫ В МОНОКРИСТАЛЛАХ МАНГАНИТОВ La_(1-x) (Sr,Ba)_xMnO₃ В ОБЛАСТИ ГОМОГЕННОСТИ X=0,2-0,4.

Тезисы докладов IV Национальной конференциипо п рименению Рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов доля исследования материалов, Москва, ИК РАН, 17-22 ноября 2003, стр.197.

 

2004

 

12. Э.В.Суворов, И.А.Смирнова, Е.В.Шулаков

Тонкая структура изображения дислокаций расположенных в плоскости рассеяния перпендикулярно вектору отражения

Материалы международного симпозиума «Нанофизика и наноэлектроника», Н.Новгород, 25-29 марта 2005 г Т.2. Стр.284-285

 

2005

 

13. Суворов Э.В., Смирнова И.А., Шулаков Е.В.

Особенности дифракционного изображения краевых дислокаций для двух ориентаций вектора Бюргерса ( ) относительно вектора дифракции ( ) –  и .

Материалы международного симпозиума «Нанофизика и наноэлектроника», Н.Новгород, 25-29 марта 2005 г Т.2. Стр.286-287

 

14. И.А. Смирнова, Э.В. Суворов, Е.В. Шулаков , М.С. Мартиросян

Роль поглощения в формировании дифракционного изображения краевой дислокации расположенной в плоскости рассеяния.

Материалы международного симпозиума «Нанофизика и наноэлектроника», Н.Новгород, 25-29 марта 2005 г Т.2. Стр.284-285

 

15. И.А. Смирнова, Э.В. Суворов, Е.В. Шулаков

ДИФРАКЦИЯ РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ НА ОДНОМЕРНЫХ ДЕФЕКТАХ

Тезисы докладов V Национальной конференции по применению Рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования материалов, Москва, ИК РАН, 14-19 ноября 2005, стр.257.

 

2006 год

 

16. Суворов, Э.В., Смирнова, И.А., Шулаков Е.В.

Особенности рентгеновского дифракционного изображения деформаций локализованных в близи оси дислокаций в кристаллах кремния

XII национальная конференция по росту кристаллов НКРК 2006, Москва, ИК РАН, 23-27 октября, тезисы докладов, стр.199

 

17. Суворов, Э.В., Смирнова, И.А., Шулаков Е.В.

Особенности дифракционного изображения локализованных деформаций в кристаллах кремния в методах рентгеновской

III Международная конференция по физике кристаллов КРИСТАЛЛОФИЗИКА XXI века МГТУ (МИСиС), 20-26 ноября 2006, тезисы докладов, стр.198-200

 

18. Суворов, Э.В., Смирнова, И.А., Шулаков, Е.В.

Особенности дифракции рентгеновских лучей на локализованных пространственно неоднородных деформациях в схемах секционной топографии

ТРЕТИЙ МЕЖДУНАРОДНЫЙ НАУЧНЫЙ СЕМИНАР «Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия)» Великий Новгород, 22 – 25 мая 2006 г. Сборник материалов, Стр.238-241

 

19. Смирнова, И.А., Суворов, Э.В, . Шулаков, Е.В.

Влияние поглощения на дифракционное изображение локальных деформаций связанных с дислокациями

ТРЕТИЙ МЕЖДУНАРОДНЫЙ НАУЧНЫЙ СЕМИНАР «Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия)» Великий Новгород, 22 – 25 мая 2006 г. Сборник материалов, Стр.234-237

 

20. И.А.Смирнова, Э.В.Суворов, Е.В.Шулаков

Особенности дифракции рентгеновских лучей на деформациях локализованных параллельно поверхности образца.

Материалы X симпозиума «Нанофизика и наноэлектроника» Нижний Новгород, 13-17 марта 2006, с.400-401

 

2007 год

 

21. Суворов, Э.В., Смирнова, И.А., Вдовин, В.И.

Исследование SiGe/Si гетероструктур с Si и SiGe буфером методами высокоразрешающей рентгеновской дифрактометрии и топографии

Нанофизика и наноэлектроника, XI Международный симпозиум 10-14 марта 2007, Н.Новгород, материалы, стр.366-367

 

22. Суворов, Э.В., Смирнова, И.А., Шулаков, Е.В.

Тонкая структура дифракционного изображения дислокаций, ориентированных вдоль вектора дифракции

Нанофизика и наноэлектроника, XI Международный симпозиум 10-14 марта 2007, Н.Новгород, материалы, стр.368-369

 

23. Суворов, Э.В., Смирнова, И.А., Шулаков, Е.В.

Дифракция рентгеновского излучения на упругих дефомациях в кремнии связанных с дислокациями

IV Российская конференция с международным участием по физике, материаловедению и физикохимическим основам технологий получения легированных кристаллов кремния и приборных структур на их основе КРЕМНИЙ 2007", Москва, 03-06 июля, МИСиС, тезисы докладов, стр.305-306

 

24. Суворов, Э.В., Смирнова, И.А.

Тонкая структура дифракционного изображения дислокаций в случае эффекта Бормана

VI Национальная конференция по применению рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования материалов, Москва, ИК РАН, 12-17 ноября 2007, тезисы докладов, стр.488

 

25. Суворов, Э.В., Смирнова, И.А., Шулаков, Е.В.

Наблюдение нового типа интерференционных полос в геометрии Брега

VI Национальная конференция по применению рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования материалов, Москва, ИК РАН, 12-17 ноября 2007, тезисы докладов, стр.489

 

26. Суворов, Э.В.

Секционная топография. Возможности получения количественной информации о реальной структуре кристаллов.

Первая международная школа-семинар, В.Новгород, Университет, 2007

 

27. Суворов Э.В.

Лекция 2. Теоретические основы формирования волнового поля в идеальных кристаллах. 21 – 25 мая 2007 г., Великий Новгород, ПЕРВАЯ МЕЖДУНАРОДНАЯ НАУЧНАЯ ШКОЛА–СЕМИНАР «Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия)»

 

2008 год

 

28. Суворов, Э.В., Смирнова, И.А.

Особенности дифракции рентгеновского волнового поля на деформационных полях единичных дислокаций в кремнии в методах высокоразрешающей секционной топографии

Нанофизика и наноэлектроника, XII Международный симпозиум 10-14 марта 2008, Н.Новгород, материалы, стр.249-250

 

29. Суворов, Э.В., Смирнова, И.А., Шулаков, Е.В.

Дифракционный профиль упруго изогнутого кристалла в геометрии Брэгга

Нанофизика и наноэлектроника, XII Международный симпозиум 10-14 марта 2008, Н.Новгород, материалы, стр.247-248

 

30. Суворов, Э.В., Смирнова, И.А.

Особенности дифракции рентгеновских лучей на деформационных полях единичных дислокаций в кремнии в методах высокоразрешающей секционной топографии

V Международной конференции и IV школы молодых ученых и специалистов по актуальным вопросам физики, материаловедения, технологии и диагностики кремния, нанометровых структур и приборов на его основе "КРЕМНИЙ-2008, Черноголовка 1-4 июля 2008, стр.215

 

31. Суворов, Э.В.

Рентгеновская дифракционная микроскопия (топография) вчера, сегодня, завтра

ВТОРАЯ МЕЖДУНАРОДНАЯ НАУЧНАЯ ШКОЛА-СЕМИНАР «Современные методы анализа дифракционных данных (дифракционные методы для нанотехнологии)» Великий Новгород 2008, 1-5 сентября, стр.24

 

32. Суворов, Э.В., Смирнова, И.А.

Возможности рентгеновской геометрической оптики в секционной топографии высокого разрешения

ЧЕТВЁРТЫЙ МЕЖДУНАРОДНЫЙ НАУЧНЫЙ СЕМИНАР «Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия)» Великий Новгород 2008, 6-10 сентября, стр.204-207

 

33. Суворов, Э.В., Смирнова, И.А.

Особенности когерентного рассеяния рентгеновских лучей на деформациях, локализованных вдоль вектора дифракции

Рабочее совещание Рентгеновская оптика 2008 г. Черноголовка, 6-9 октября 2008 г. стр368-369

 

2009 год

 

34. Суворов, Э.В., Смирнова, И.А.

Межветвевое рассеяние в сильно искаженной области упругого поля дефекта

Нанофизика и наноэлектроника, XIII, Международный симпозиум 16-20 марта 2009, Н.Новгород, материалы, Т1, стр.108-109

 

35. Суворов, Э.В., Смирнова, И.А.

Изображение дефектов в плосковолновой топографии при разном освещении

Нанофизика и наноэлектроника, XIII, Международный симпозиум 16-20 марта 2009, Н.Новгород, материалы, Т1, стр.119-120

 

36. Суворов, Э.В., Смирнова, И.А.

Тонкая структура прямого изображения. Межветвевое рассеяние рентгеновского волнового поля вблизи ядра дислокации

VII Национальная конференция по применению рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования материалов, Москва, ИК РАН, 16-21 ноября 2009, тезисы докладов, стр.453

 

37. Суворов, Э.В., Смирнова, И.А.

Секционная топография на отражение дефектов однородно изогнутого кристалла

VII Национальная конференция по применению рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования материалов, Москва, ИК РАН, 16-21 ноября 2009, тезисы докладов, стр.522

 

38. Шульпина И.Л., Суворов, Э.В.

Рентгеновская дифракционная топография – перспективы

Тезисы докладов Первых московских чтений по проблемам прочности материалов, Москва, 1-3 декабря 2009, стр. 269

 

2010 год

 

39. Суворов, Э.В., Смирнова, И.А.

Механизмы образования прямого изображения дислокаций в методах секционной топографии

Нанофизика и наноэлектроника, XIII, Международный симпозиум 16-20 марта 2010, Н.Новгород, материалы, Т1, стр.119-120

 

40. Суворов, Э.В. (заказная лекциия)

Рентгеновская дифракционная топография дефектов в материалах полупроводниковой электроники. Вчера, сегодня, завтра

VII Международная конференция и VI Школа молодых ученых и специалистов по актуальным проблемам физики, материаловедения, технологии и диагностики кремния, нанометровых структур и приборов на его основе. Н.Ногород, Гос.Университет, 2010

Программа, стр.7

 

41. Суворов, Э.В., Смирнова, И.А.

О природе "прямого изображения" дислокаций в методах рентгеновской дифракционной топографии

VII Международная конференция и VI Школа молодых ученых и специалистов по актуальным проблемам физики, материаловедения, технологии и диагностики кремния, нанометровых структур и приборов на его основе. Н.Ногород, Гос.Университет, 2010, Тезисы докладов стр. 234

 

42. Суворов, Э.В., Смирнова, И.А., Шулаков, Е.В.

Секционная топография однородноизогнутого кристалла (гетероструктуры SiGe/Si)

VII Международная конференция и VI Школа молодых ученых и специалистов по актуальным проблемам физики, материаловедения, технологии и диагностики кремния, нанометровых структур и приборов на его основе. Н.Ногород, Гос.Университет, 2010, Тезисы докладов стр. 229

 

43. Суворов, Э.В., Смирнова, И.А.

К вопросу о физической природе "прямого изображения в методах секционной топографии

Рентгеновская оптика – 2010, Рабочее совещание, Черноголовка, 20-23 октября 2010,стр.34-36

 

44. Смирнова, И.А., Суворов, Э.В., Шулаков, Е.В.

Секционная топография однородно изогнутого кристалла

Рентгеновская оптика – 2010, Рабочее совещание, Черноголовка, 20-23 октября 2010,стр.75-77

 

45. Суворов, Э.В., Смирнова, И.А.

Природа прямого изображения дислокаций в методах рентгеновской топографии.

"Кристаллофизика XXI века", XIV Национальная конфереция по росту кристаллов НКРК-2010, 6-10 декабря 2010 г.

 

46. I.A. Smirnova, E.V. Suvorov E.V. Shulakov OBSERVATION OF INTERFERENCE FRINGES OF THE UNIFORMLY BENT CRYSTAL IN THE BRAGG GEOMETRY

10th Biennial Conference on High Resolution X-Ray Diffraction and Imaging, University of Warwick/ UK, Coventry, University of Warwick 20-23.09.2010г p.99

 

47. Э.В.Суворов, И.А.Смирнова

Механизмы образования дифракционного изображения дислокаций в рентгеновской топографии

VIII НАЦИОНАЛЬНОЙ КОНФЕРЕНЦИИ "Рентгеновское, Синхротронное излучения, Нейтроны и Электроны для исследования наносистем и материалов. Нано-Био-Инфо-Когнитивные Технологии" Москва, ИК РАН, 14-18 ноября 2011г. Стр.514

 

48. И.А.Смирнова, Э.В.Суворов

МОДЕЛИРОВАНИЕ ИЗОБРАЖЕНИЯ КРАЕВОЙ ДИСЛОКАЦИИ В ТОПОГРАФИИ СКАНИРОВАНИЯ

VIII НАЦИОНАЛЬНОЙ КОНФЕРЕНЦИИ "Рентгеновское, Синхротронное излучения, Нейтроны и Электроны для исследования наносистем и материалов. Нано-Био-Инфо-Когнитивные Технологии" Москва, ИК РАН, 14-18 ноября 2011г. Стр.410

 

2011

 

49. Суворов Э.В.

Дифрактометрия высокого разрешения в изучения структуры обратного пространства (одно-, двух- и трех- кристальные дифрактометры),

ТРЕТЬЯ МЕЖДУНАРОДНАЯ МОЛОДЁЖНАЯ НАУЧНАЯ ШКОЛА-СЕМИНАР «Современные методы анализа дифракционных данных (дифракционные методы для нанотехнологии) и актуальные проблемы рентгеновской оптики» В.Новгород, 12-16 сентября 2011, стр.115

(заказной)

 

50. Суворов Э.В., И.А.Смирнова

Тонкая структура прямого изображения дислокаций в методах секционной топографии и его природа, (устный доклад)

XIV Симпозиум «Нанофизика и наноэлектроника» Н.Новгород, 14-18 марта 2011, стр.178-179

 

51. И. А. Смирнова, Э.В.Суворов

Формирование изображения дефектов в топографии сканирования,

XIV Симпозиум «Нанофизика и наноэлектроника» Н.Новгород, 14-18 марта 2011, стр.619-620

 

52. Суворов Э.В. Смирнова И.А.

Дифракционные механизмы образования изображения дислокаций в кремнии в методах высоко-разрешающей рентгеновской топографии.

VIII-я Международная конференция и VII-я Школа ученых и молодых специалистов по актуальным проблемам, физики, материаловедения, технологии и диагностики кремния, наноразмерных структур и приборов на его основе «Кремний 2011». Тезисы докладов. Москва, НИТУ «МИСиС», 2011, С. 229.

 

53. Суворов Э.В., И.А.Смирнова,

Дифракционное изображение дислокаций в методах рентгеновской секционной топографии (устный доклад),

ПЯТЫЙ МЕЖДУНАРОДНЫЙ НАУЧНЫЙ СЕМИНАР «Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия) и актуальные проблемы рентгеновской оптики» В.Новгород, 12-16 сентября 2011, стр.168-170

 

54. Смирнова И.А., Суворов Э.В.

Интегральная интенсивность рентгеновского излучения в геометрии Бормана -Лемана (устный доклад),

ПЯТЫЙ МЕЖДУНАРОДНЫЙ НАУЧНЫЙ СЕМИНАР «Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия) и актуальные проблемы рентгеновской оптики» В.Новгород, 12-16 сентября 2011, стр.164-166

 

55. Суворов Э.В., И.А.Смирнова,

Изображения дислокаций в методах рентгеновской топографии, (устный доклад),

ВТОРЫЕ Московские чтения по проблемам прочности материалов посвященные 80-летию со дня рождения академика РАН Ю.А. Осипьяна, Черноголовка, 10-14 октября 2011, стр.147

 

56. Суворов Э.В., И.А.Смирнова,

Механизмы образования дифракционного изображения дислокаций в рентгеновской топографии, (устный доклад)

VIII национальная конференция "Рентгеновское Синхротронное излучения, Нейтроны и электроны для исследования наносистем и материалов. РСНЭ-НБИК 2011, Москва, 14-18 ноября 2011, стр.514

 

57. Смирнова И.А., Э.В.Суворов

Моделирование изображения краевой дислокации в топографии сканирования (устный доклад)

VIII национальная конференция "Рентгеновское Синхротронное излучения, Нейтроны и электроны для исследования наносистем и материалов. РСНЭ-НБИК 2011 Москва, 14-18 ноября 2011, стр.410

 

2012

 

58. Э.В.Суворов, И.А.Смирнова

Дифракционные механизмы изображения дислокаций

в рентгеновской топографии

Труды XVI международного симпозиума «Нанофизика и наноэлектроника», Н.Новгород, 12-16 марта 2012, Том 2, стр.591-592

 

59. Суворов Э.В., Смирнова И.А.

Тонкая структура рентгеновских волновых полей в кристаллах кремния с локализованными наноразмерными деформациями

IX международной конференции и VIII школы молодых учёных и специалистов по актуальным проблемам физики, материаловедения, технологии и диагностики кремния, наноразмерных структур и приборов на его основе («кремний-2012»), ФТИ РАН им. А.Ф. Иоффе ран в Санкт-Петербурге с 9 по 13 июля 2012г., тезисы докладов стр.147-148

 

60. Смирнова И.А., Суворов Э.В.

Изображение дислокаций в топографии сканирования эксперимент и численное моделирование

IX международной конференции и VIII школы молодых учёных и специалистов по актуальным проблемам физики, материаловедения, технологии и диагностики кремния, наноразмерных структур и приборов на его основе («кремний-2012»), ФТИ РАН им. А.Ф. Иоффе ран в Санкт-Петербурге с 9 по 13 июля 2012г., тезисы докладов стр.149

 

61. Suvorov E.V., Smirnova I.A.

Interbrach scattering – principal factor determining the diffraction image formation of dislocations

11th Biennial Conference on High Resolution X-Ray Diffraction and Imaging September 15-20, 2012 St. Petersburg, Russia, Book of Abstracts p.185-186

 

62. Smirnova I.A., Suvorov E.V., Shulakov E.V.

Dislocation image in scanning topography. Experiment and numerical simulation.

11th Biennial Conference on High Resolution X-Ray Diffraction and Imaging September 15-20, 2012 St. Petersburg, Russia, Book of Abstracts p.195-196

 

63. Smirnova I.A., Suvorov E.V., Shulakov E.V.

Integral intensity of X-ray radiation in the Borrmann-Leeman geometry.

11th Biennial Conference on High Resolution X-Ray Diffraction and Imaging September 15-20, 2012 St. Petersburg, Russia, Book of Abstracts p.197-198

 

64. Э.В.Суворов, И.А.Смирнова

Об основных механизмах формирующих изображение дислокаций в рентгеновской дифракционной топографии

Конференция «Рентгеновская оптика 2012», Черноголовка, 1-4 октября 2012, Сборник материалов стр. 121-123.

 

65. Э.В.Суворов, И.А.Смирнова Е.В.Шулаков

Интегральная интенсивность рентгеновского излучения в ограниченном кристалле

Конференция «Рентгеновская оптика 2012», Черноголовка, 1-4 октября 2012, Сборник материалов стр. 115-117.

 

66. Суворов Э.В., Смирнова И.А.

Дифракционные механизмы изображения дислокаций в рентгеновской топографии (современные представления)

VII Международная конференция “Фазовые превращения ипрочность кристаллов», 30 октября – 2 ноября 2012 г., Тезисы докладов стр. 134.

 

ЛИСТ ОСНОВНЫХ ПУБЛИКАЦИЙ

гнс ифтт ран Суворова Э.В.

2000-2011 годы

 

1. И.А.Смирнова, Е.В.Шулаков, Э.В.Суворов, О.П.Алешко-Ожевский, Динамический контраст секционных топограмм при возбуждении в объеме кристалла поперечных акустических волн,

Поверхность. Рентген., синхротр. и нейтр. исслед. 2000, 1, 99-105

 

2. V. Sedykh, I.S. Smirnova, E.V. Suvorov, A.V. Dubovitskii, V.I. Kulakov

The Effect of Vacuum Annealing on Structure Modulation in the Bi2Sr3Fe2Ox Compound

Physica Physica C, 336, (2000) 239-243

 

3. В.Ш.Шехтман, Э.В.Суворов Рентгендифракционные и электронно-микроскопические методы анализа атомно-кристаллической структуры материалов. Лабораторный практикум (методическое пособие для студентов и аспирантов), Черноголоовка, 2000 год, 138 страниц.

 

4. E.V.Shulakov, E.V.Suvorov, I.A.Smirnova, Yu.A.Ossipuan, M.G.Mi’vidskii, X-Ray Study of Bulk Makrodefects in Silicon 

Fourth International Conference Single Crystal Growth and Heat & Mass Transfer, Obninsk 2001, Volume 3, p.563-570. 

 

5. Э.В.Суворов, И.Л.Шульпина, Рентгеновская оптика кристаллов с дефектами,

Поверхность 2001, 7, 03-23

 

6. М.Г.Мильвидский, Ю.А.Осипьян, И.А.Смирнова, Э.В.Суворов, Е.В.Шулаков, Наблюдение микродефектов в кремнии методами рентгеновской топографии,

Поверхность 2001, 6, 05-11

 

7. V.Sedykh, I.S.Smirnova,B.Bagautdinov, K.Hagiya, M.Ohmasa, E.V.Suvorov, A.V.Dubovitskii, V.Sh.Shekhtman

The structure modulation in the Bi2Sr4Fe2O10 compound

Physica Physica C, v.355 (2001) 87-96

 

8. Е.В.Шулаков, И.А.Смирнова, Э.В.Суворов Топографический контраст приповерхностных дефектов в геометрии Бомана-Леемана,

Поверхность 2002, 1, 101-106

 

9. V.Sedykh, I.S.Smirnova, B.Bagautdinov, K,Hagiya, E.V.Suvorov, A.V.Dubovitskii, V.Sh.Shekhtman Relationship beetween the structure modulation and cation non-stoichiometry in the “Bi-232” ferrate,

Physica C 377, (2002), 553-560

 

10. Е.В.Шулаков, И.А.Смирнова, Э.В.Суворов Контраст Номарского при формировании изображения дефектов в геометрии Брегга

Поверхность 2003, №2 32-38

 

11. V. Sedykh, V.Sh. Shekhtman, I.S. Smirnova, B.Sh. Bagautdinov, E.V. Suvorov, A.V. Dubovitskii

About specific features of the structure modulation in the Bi-ferrate compounds isostructural with Bi₂Sr₂CaCu₂O₈

Physica C 390 (2003) 311-320

 

12. И.А.Смирнова, Э.В.Суворов, Е.В.Шулаков Особеннности формирования рентгеновского дифракционного изображения дислокаций в различных участках треугольника рассеяния

Поверхность 2004, 4, 100-104

 

13. Э.В.Суворов, И.А.Смирнова, Е.В.Шулаков Дифракционное изображение дислокаций, расположенных в плоскости рассеяния перпендикулярно вектору отражения.

Поверхность 2004, 09, 64-68

 

14. Суворов Э.В., Смирнова И.А., Шулаков Е.В. Изображение дислокаций, расположенных перпендикулярно вектору отражения,

Поверхность 2005, 08, 67-72

 

15. Суворов Э.В., Смирнова И.А., Шулаков Е.В. Влияние толщины кристалла и роль поглощения в формировании рентгеновского дифракционного изображения дислокаций,

Поверхность 2005, 12,12-19

 

16. Суворов Э.В., Смирнова И.А., Шулаков Е.В. Влияние поглощения на формирование дифракционного изображения дислокаций, 6-я международная конференция РОСТ МОНОКРИСТАЛЛОВ И МАССОПЕРЕНОС ICSC-2005,

Обнинск 2005, Сборник трудов, Том 2, стр.520-528

 

17. Смирнова И.А., Суворов Э.В., Шулаков Е.В. Дифракция рентгеновских лучей на деформациях локализованных в области параллельной поверхности образца.

Поверхность 2006, 12, 1-4

 

18. Смирнова И.А., Суворов Э.В., Шулаков Е.В. Формирование изображения краевых дислокаций в поглощающем кристалле

ФТТ 2007, 49, 6, 1050-1056

 

19. Суворов Э.В., Смирнова И.А., Шулаков Е.В. Особенности дифракции рентгеновских лучей на упругих деформациях вблизи оси дислокации в методах секционной топографии

Поверхность 2007, 9, 1-17

 

20. Суворов Э.В., Смирнова И.А., Тонкая структура дифракционного изображения краевой дислокации в секционной топографии высокого разрешения

Поверхность 2008, 10, 1-6

21. Суворов Э.В., Смирнова И.А., Межветвевое рассеяние рентгеновского волнового поля в сильно искаженной области упругого поля дислокации

ФТТ 2010, 52, 2, 241-247

 

22. И. Л. Шульпина Э.В. Суворов

Рентгеновская дифракционная топография – перспективы

Известия АН, серия физическая, 2010, 74, 11, с.1547-1556

 

23. Э.В. Суворов, И.А. Смирнова

О природе прямого изображения дефектов в дифракционных методах рентгеновской топографии

ФТТ, 2010, 52, 12, с.2325-2329

 

24. И.А. Смирнова, Э.В. Суворов, Е.В.Шулаков

Дифракция рентгеновского излучения на однородно изогнутом кристалле в геометрии на отражение (статья)

ФТТ, 2011, 53, 1, 35-40

 

25. Смирнова И.А., Э.В.Суворов, Е.В.Шулаков Дифракция рентгеновского излучения на однородно изогнутом кристалла в геометрии на отражение

ФТТ 2011, том 53, вып. 1, стр.35-40

 

26. Суворов Э.В., И.А.Смирнова Дифракционное изображение винтовых дислокаций в методах рентгеновской секционной топографии

Поверхность, №12, (2011), с.1-4

 

27. Суворов Э.В., Методы исследования реальной структуры и состава материалов.

Москва, Издательский дом МИСиС, 2011, -163c. (ISBN978-5-87623-512-1, Уч.-изд.л.20,4, рег.№248)

 

28. Э.В.Суворов, И.А.Смирнова Новый подход в понимании механизмов дифракционного изображения дислокаций в рентгеновской топографии

Письма ЖТФ 2012, 38,21, c.70-76